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IEEE Design & Test 期刊简介
英文简介:

IEEE Design & Test offers original works describing the models, methods, and tools used to design and test microelectronic systems from devices and circuits to complete systems-on-chip and embedded software. The magazine focuses on current and near-future practice, and includes tutorials, how-to articles, and real-world case studies. The magazine seeks to bring to its readers not only important technology advances but also technology leaders, their perspectives through its columns, interviews, and roundtable discussions. Topics include semiconductor IC design, semiconductor intellectual property blocks, design, verification and test technology, design for manufacturing and yield, embedded software and systems, low-power and energy-efficient design, electronic design automation tools, practical technology, and standards.

中文简介:(来自Google、百度翻译)

IEEE设计与测试提供了描述用于设计和测试微电子系统的模型、方法和工具的原创作品,从设备和电路到完整的片上系统和嵌入式软件。该杂志专注于当前和近期的实践,包括教程、入门文章和现实案例研究。该杂志力求通过专栏、访谈和圆桌讨论,为读者带来重要的技术进步,同时也为技术领导者及其观点。主题包括半导体集成电路设计、半导体知识产权模块、设计、验证和测试技术、制造和生产设计、嵌入式软件和系统、低功耗和节能设计、电子设计自动化工具、实用技术和标准。

期刊ISSN
2168-2356
最新的影响因子
2
最新CiteScore值
N/A
最新自引率
5.60%
期刊官方网址
https://www.ieee.org/membership-catalog/productdetail/showProductDetailPage.html?product=PER311-EPC
期刊投稿网址
通讯地址
偏重的研究方向(学科)
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEER
出版周期
平均审稿速度
出版年份
0
出版国家/地区
UNITED STATES
是否OA
No
SCI期刊coverage
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NCBI查询
PubMed Central (PMC)链接 全文检索(pubmed central)
IEEE Design & Test 期刊中科院JCR 评价数据
最新中科院JCR分区
大类(学科)
小类(学科)
JCR学科排名
工程技术
COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE(计算机科学,硬件和体系架构) 2区 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC(工程学,电气和电子) 3区
24/52 152/260
最新的影响因子
2
最新公布的期刊年发文量
年度总发文量 年度论文发表量 年度综述发表量
37 37 0
总被引频次 1384
特征因子 0.001510
影响因子趋势图
2007年以来影响因子趋势图(整体平稳趋势)
IEEE Design & Test 期刊CiteScore评价数据
最新CiteScore值
N/A
=
引文计数(2018) 文献(2015-2017)
=
N/A次引用 N/A篇文献
文献总数(2014-2016) N/A
被引用比率
N/A%
SJR
N/A
SNIP
N/A
CiteScore排名
序号 类别(学科) 排名 百分位
1 Engineering Media Technology #
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偏重的研究方向:
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