IEEE Electron Device Letters publishes original and significant contributions relating to the theory, modeling, design, performance and reliability of electron and ion integrated circuit devices and interconnects, involving insulators, metals, organic materials, micro-plasmas, semiconductors, quantum-effect structures, vacuum devices, and emerging materials with applications in bioelectronics, biomedical electronics, computation, communications, displays, microelectromechanics, imaging, micro-actuators, nanoelectronics, optoelectronics, photovoltaics, power ICs and micro-sensors.
《IEEE电子器件快报》发表了有关电子和离子集成电路器件和互连的理论、建模、设计、性能和可靠性的原创和重要贡献，涉及绝缘体、金属、有机材料、微等离子体、半导体、量子效应结构、真空器件、以及在生物电子学、生物医学电子学、计算、通信、显示、微电子力学、成像、微驱动器、纳米电子学、光电子学、光电学、功率电子学和微传感器的材料。
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期刊ISSN
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0741-3106 |
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最新的影响因子
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4.9 |
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最新CiteScore值
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3.7 |
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最新自引率
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12.00% |
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期刊官方网址
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http://ieeexplore.ieee.org/xpl/RecentIssue.jsp?punumber=55 |
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期刊投稿网址
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http://mc.manuscriptcentral.com/edl |
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通讯地址
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IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141 |
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偏重的研究方向（学科）
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工程技术-工程：电子与电气 |
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出版周期
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Monthly |
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平均审稿速度
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平均1.3个月 |
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出版年份
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1980 |
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出版国家/地区
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UNITED STATES |
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是否OA
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No |
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SCI期刊coverage
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Science Citation Index Expanded（科学引文索引扩展） |
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NCBI查询
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PubMed Central (PMC)链接 全文检索(pubmed central) |
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最新中科院JCR分区
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大类(学科)
小类(学科)
JCR学科排名
工程技术
ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC(工程学，电气和电子) 1区
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最新的影响因子
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| 最新公布的期刊年发文量 |
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| 总被引频次 | 14904 | |||||||
| 特征因子 | 0.020200 | |||||||
| 影响因子趋势图 |
2007年以来影响因子趋势图（整体平稳趋势）
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最新CiteScore值
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3.7
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引文计数(2018)
文献(2015-2017)
=
4450次引用
1203篇文献
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| 文献总数（2014-2016） | 1203 | ||||||||||
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被引用比率
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82% | ||||||||||
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SJR
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1.361 | ||||||||||
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SNIP
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1.738 | ||||||||||
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CiteScore排名
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| CiteScore趋势图 |
CiteScore趋势图
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| scopus涵盖范围 |
scopus趋势图
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| 分享者 | 点评内容 |
